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產(chǎn)品名稱:智能LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋

產(chǎn)品型號(hào):安柏AT810A

更新時(shí)間:2023-12-17

產(chǎn)品特點(diǎn):安柏AT810A智能LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏技術(shù)。

安柏AT810A智能LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋的詳細(xì)資料:

安柏AT810A智能LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋

安柏AT810A 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏的技術(shù)。
內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置,分辨率zui小0.0001Hz,并且提供任意電平設(shè)置,分辨率0.01V,使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏成熟的實(shí)時(shí)儀器操作系統(tǒng) ATOSv4,軟件操作和全中文菜單界面,使AT810A具有傻瓜式操作界面。
增強(qiáng)自動(dòng)分選機(jī)接口,30次/秒的測(cè)試速度,高穩(wěn)定性,為全自動(dòng)設(shè)備做好準(zhǔn)備。
內(nèi)置RS-232接口,兼容SCPI編程語(yǔ)言,很容易與計(jì)算機(jī)通訊,完成所有儀器功能。
內(nèi)置Handler 6檔分選接口,配合RS-232接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。

AT810A智能LCR測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格

 

 

測(cè)量參數(shù) 

Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,Rs-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg

監(jiān)視參數(shù) 

Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%

基本準(zhǔn)確度 

0.05% ±5字

測(cè)試頻率 

10Hz~20kHz(連續(xù)頻率,分辨率 0.001Hz)

顯示范圍 

L: 0.00001μH-999999H C: 0.00001pF - 999999μF R,Z: 0.00001Ω -  D,Q: 0.00001 - 999999 Δ%: -999999% - 999999%W99.9999MΩ 

輸出阻抗 

30Ω, 50Ω和100Ω

量程 

自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱量程,9量程

zui大讀數(shù) 

全6位,主參數(shù): 999999 副參數(shù):999999 監(jiān)視參數(shù):999999

信號(hào)電平 

0.01V~2.00V(10mV步進(jìn))

測(cè)試速度 

30次/秒,10次/秒,6次/秒,3次/秒;同時(shí)可進(jìn)行1-256次平均

比較器 

14檔分選,10組合格檔,1組不合格檔,1組附屬檔,2組主參數(shù)不合格檔檔計(jì)數(shù)功能:zui大檔計(jì)數(shù)999999 

列表掃描 

10組頻率和電平掃描測(cè)試

校準(zhǔn) 

開(kāi)路/短路掃頻,3點(diǎn)頻清零和負(fù)載校準(zhǔn)

文件 

10組文件,保存所有用戶設(shè)置,1組文件實(shí)時(shí)保存系統(tǒng)數(shù)據(jù)

接口 

RS232C, ExHandler接口,標(biāo)配USB磁盤(pán)接口(可存儲(chǔ)10000條數(shù)據(jù))

其它 

LCR自動(dòng)選擇,鍵盤(pán)鎖,SCPI指令集,真彩TFT-LCD顯示

電源要求 

電壓:90VAC~250VAC 頻率:50Hz~60Hz 功率:zui大20VA 

尺寸與重量 

264 (寬)x107(高)x350 (深) ,4kg

附件 

ATL501:測(cè)試電纜 ATL607: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片 ATL801:232通訊線纜 

可選附件 

ATL608 SMD貼片夾具 ATL508 SMD貼片測(cè)試夾 ATS810A數(shù)據(jù)采集軟件 ATL508A SMD貼片測(cè)試夾 

 

 

AT810A 精密LCR 數(shù)字電橋性能特征

 

 

高亮度,真彩LCD顯示。

校正功能:全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。

10組文件管理,可*存儲(chǔ)儀器狀態(tài)和比較器設(shè)置。

增強(qiáng)型比較器(分選)功能:可編程的P1~P9 9檔分選,主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。

偏差(ABS)比較方式和相對(duì)偏差比較方式。

根據(jù)標(biāo)稱值自動(dòng)量程選擇。

可開(kāi)關(guān)的附屬檔(AUX)分選。

可編程1~256次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。

內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。

1000V*沖擊保護(hù)

 

 

 

安柏AT810 LCR測(cè)試儀 數(shù)字電橋

安柏AT810 采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技好的技術(shù)。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT810具有傻瓜式操作界面。
內(nèi)置RS232C接口,兼容SCPI編程語(yǔ)言,很容易與計(jì)算機(jī)通訊,完成所有儀器功能。
內(nèi)置Handler接口,配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。

AT810 LCR測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格

 

 

測(cè)試參數(shù):L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)

測(cè)試頻率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz

基本準(zhǔn)確度:0.1%

測(cè)試電平:0.1V, 0.3V, 1.0V

測(cè)試速度:2次/秒,5次/秒,15次/秒

主副參數(shù)5位顯示

L: 0.01μH-9999H

C: 0.01pF - 9999μF

WR,Z: 0.0001Ω - 99.99MΩ

D,Q: 0.0001 - 9999

°θ(deg): -90.00°- 90.00°

θ(rad): -3.1416 – 3.1416

Δ%: -9999% - 9999%

輸出阻抗:30Ω, 100Ω

等效電路:串聯(lián), 并聯(lián)

六量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試。

 

 

AT810 LCR測(cè)試儀性能特征

 

 

高亮度,超清晰四色VFD顯示。

校正功能:全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。

第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。

比較器(分選)功能:內(nèi)建20組分選記錄,P1,P2,P3,NG,AUX 五檔分選結(jié)果顯示和輸出。

自定義分選結(jié)果訊響和音量。

內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。

顯示亮度可調(diào)。

1000V*沖擊保護(hù)

 

 

 

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